

一、產(chǎn)品簡介
該測試系統(tǒng)是晶閘管靜態(tài)參數(shù)檢驗(yàn)測試中不可缺少的專用測試設(shè)備。
該套測試設(shè)備主要有以下幾個(gè)單元組成:
1) 門觸發(fā)參數(shù)測試單元
2) 維持電流測試單元
3) 阻斷參數(shù)測試單元
4) 通態(tài)壓降參數(shù)測試單元
5) 電壓上升率參數(shù)測試單元
6) 擎住電流
7) 門電阻
8) 計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)
9) 合格證標(biāo)簽打印
10) 夾具單元;包含平板夾具和夾具
二、技術(shù)條件
主要技術(shù)指標(biāo):
2.1 門觸發(fā)電壓/門觸發(fā)電流測試單元IGT/VGT
1. 陽電壓:12V;
2. 陽串聯(lián)電阻:6Ω;
3. 門觸發(fā)電壓:0.3~5.00V±3%±10mV;
4. 門觸發(fā)電流:2~450mA±3%±1 mA;
2.2 維持電流測試單元IH
1. 陽電壓:12V;
2. 預(yù)導(dǎo)通電流: >10A,正弦衰減波;
3. 維持電流: 2~450mA ±5%±1 mA;
4. 測試頻率:單次;
2.3 通態(tài)壓降測試單元VTM
1. 平板器件通態(tài)電流:0.10~5.00kA,分辨率:0.01kA,精度±1 0A±5%;
2. 器件通態(tài)電流:0.10~2.00kA,分辨率:0.01kA,精度±1 0A±5%;
3. 電流上升沿時(shí)間:≥5ms;
4. 通態(tài)壓降測試范圍: 0.20~10.00V, 分辨率:0.01V,精度±0.1 V±5%;
5. 測試頻率:單次;
2.4 斷態(tài)電壓/斷態(tài)漏電流VD/ID;反向電壓/反向漏電流VR/IR測試單元
1. 阻斷電壓:0.20~6.00kV,分辨率:0.01kV,精度±0.1 kV±3%;
單元阻斷電壓:0.20~4.00kV
2. 正反向自動(dòng)測試:
3.正/反向漏電流:0.2~100 mA,分辨率:0.1 mA;
精度:±5%±1 mA;
4. 輸出保護(hù)電壓和電流可計(jì)算機(jī)設(shè)定范圍值;在測試時(shí)電壓或漏電流超過所 設(shè)定的范圍則自動(dòng)保護(hù)。
5. 測試頻率: 50HZ
2.5 斷態(tài)電壓臨界上升率測試單元dv/dt
1. 電壓:1200V,1600V,2000V三檔,分辨率:1V,精度±5%;
2. 電壓過沖范圍:<50V±10%
3. DV/DT電壓上升率三擋選擇:dv/dt:800V/μs、1000V/μs、1200V/μs、精度±10%;
2.6 擎住電流IL:100-1800mA
2.7 平板夾具壓力范圍:6-60KN,氣動(dòng)加壓方式
三、功能概述
3-1測試功能范圍
該套測試設(shè)備主要可測試以下參數(shù):
1. 門參數(shù)測試:VGT、IGT
2. 維持電流測試:IH
3. 阻斷參數(shù)測試:本測試單元可用以測量晶閘管的VDRM、VRRM、IDRM、IRRM以及整流二管的VRRM、IRRM等參數(shù)。
4. 壓降單元
本測試單元用來測量晶閘管、整流管的VTM、ITM、VFM、IFM等參數(shù)。
5、 電壓上升率參數(shù)測試:dv/dt
6、 擎住電流IL
7、 門電阻:適合門觸發(fā)電壓在0.95V以上器件測試
3-2、測試方法和測試準(zhǔn)則及原理滿足 IEC 60747-6-2000 中關(guān)于晶閘管測試的具體規(guī)定。